專利名稱： 表面被覆的金屬陶瓷制切削工具
公開（告）號： CN1840267
申請（專利）號： 200610006666.3
發(fā)明（設(shè)計）人： 本間尚志;長田晃;中村惠滋;早樋拓也
(申請)專利權(quán)（人）： 三菱綜合材料株式會社
內(nèi)容：（摘要）本發(fā)明提供硬質(zhì)被覆層在高速斷續(xù)切削加工中發(fā)揮優(yōu)異的抗破損性的被覆金屬陶瓷的工具。該表面被覆金屬陶瓷的切削工具是在由WC 基超硬合金或TiCN基金屬陶瓷構(gòu)成的工具基體的表面蒸鍍硬質(zhì)被覆層而形成的。
主權(quán)項：表面被覆的金屬陶瓷制切削工具，該工具是在由碳化鎢基超硬合金或碳氮化鈦基金屬陶瓷構(gòu)成的工具基體的表面蒸鍍由下述(a)和 (b)構(gòu)成的硬質(zhì)被覆層而形成的，硬質(zhì)被覆層在高速斷續(xù)切削加工中發(fā)揮優(yōu)異的抗破損性： (a)下層為含有Ti的碳化物層、氮化物層、碳氮化物層、碳氧化物層、和碳氮氧化物層中的1層或2層或2層以上，且具有3-20μm 的總平均層厚的Ti化合物層、 (b)上層為氧化鋁層，該氧化鋁層具有1-15μm的平均層厚，且在進(jìn)行了化學(xué)蒸鍍的狀態(tài)下具有α型晶體結(jié)構(gòu)，并且用場致發(fā)射掃描電子顯微鏡對存在于表面研磨面測定范圍之內(nèi)具有六方晶系晶格的晶粒分別照射電子射線，測定上述晶粒的晶面(0001)面和(10-10)面的法線與上述表面研磨面的法線所成的傾斜角，此時上述晶粒具有在晶格點(diǎn)上分別存在由Al和氧組成的構(gòu)成原子的剛玉型密排六方晶系的晶體結(jié)構(gòu)，結(jié)果根據(jù)所得的測定傾斜角，計算在相鄰的晶粒的界面上，上述各構(gòu)成原子在上述晶粒之間共有一個構(gòu)成原子的晶格點(diǎn)(共有構(gòu)成原子的晶格點(diǎn))的分布，當(dāng)將在上述共有構(gòu)成原子的晶格點(diǎn)間存在N個 (N為剛玉型密排六方晶系的晶體結(jié)構(gòu)上2或2以上的偶數(shù)，從分布頻率考慮，N的上限為28時，不存在偶數(shù)4、8、14、24和26)不共有構(gòu)成原子的晶格點(diǎn)的共有構(gòu)成原子晶格點(diǎn)形態(tài)表示為∑N+1時，在表示各 ∑N+1占總∑N+1的分布比例的共有構(gòu)成原子的晶格點(diǎn)分布圖中，在∑3 存在最高峰，且顯示上述∑3占總∑N+1的分布比例為60-80％的共有構(gòu)成原子的晶格點(diǎn)分布圖。
